Grupo: EVIDENT
Extractos del catálogo
CIX100 Solución llave en mano para la inspección de limpieza técnica
Abrir la página 1 del catálogoSimplifique su limpieza técnica La limpieza técnica de componentes, piezas y fluidos es una prioridad durante el proceso de fabricación. Cumplir con las rigurosas normas de recuento, análisis y clasificación de contaminantes micrométricos y partículas extrañas es importante para todos los procesos: desarrollo, fabricación, producción y control de calidad. Las directivas internacionales y nacionales estipulan los métodos y requisitos de documentación que permiten determinar la contaminación por partículas en esenciales piezas mecanizadas, dado que dichas partículas afectan directamente la...
Abrir la página 2 del catálogoCon un hardware y software perfectamente integrados, el sistema CIX100 ofrece durabilidad y alto rendimiento para emitir datos fiables y precisos. Gracias a su exclusiva distribución del trabajo, fácil de usar, las operaciones manuales disminuyen y se obtienen datos fiables, independientemente del nivel de experiencia del operador. Asimismo, sus potentes y fáciles herramientas permiten la revisión de los datos adquiridos. Para una mayor flexibilidad, el sistema admite un modo de microscopio independiente con soluciones analíticas y opcionales para materiales. La innovadora solución de...
Abrir la página 3 del catálogoOLYMPUS Cleanliness Inspector SE El sistema CIX100 es una solución llave en mano configurada para satisfacer los requisitos de la inspección de limpieza técnica automatizada. Cada componente está optimizado para brindar precisión, reproducibilidad, repetibilidad y la integración continua de datos fiables a través de un sistema de elevado rendimiento. El sistema proporciona un excelente rendimiento óptico para inspecciones rápidas en áreas de inspección circulares y rectangulares. La automatización de tareas clave permite acelerar las inspecciones al mismo tiempo que minimiza los errores...
Abrir la página 4 del catálogoExcelente calidad óptica además de estabilidad y seguridad mecánica Nuestro reconocidos objetivos UIS2 y cámaras de alta resolución brindan un alto rendimiento óptico y una calidad de imagen excepcional para mediciones y análisis de gran fiabilidad. Su fuente de luz exclusiva mantiene una temperatura de color constante que ha sido optimizada para la inspección de limpieza técnica. La alineación de la trayectoria óptica, el portaobjetivos motorizado y la cámara se encuentran protegidos por una cubierta que evita desalineaciones. Para la estabilidad del sistema y la calibración, las partes...
Abrir la página 5 del catálogoOrientación intuitiva Máxima productividad para cada nivel de experiencia El sistema CIX100 ofrece un rendimiento mejorado para optimizar la productividad a través del completo proceso de inspección, y permite que las inspecciones de limpieza técnica puedan ejecutarse fácilmente por operadores con diferentes niveles de experiencia. El software ofrece un asistente/guía paso a paso en toda la inspección de limpieza. La distribución del trabajo intuitiva y la gestión de los derechos de usuarios incrementan la productividad y la fiabilidad de los resultados, reduciendo al mismo tiempo los...
Abrir la página 6 del catálogoDistribución del trabajo guiada La interfaz presenta botones grandes que son fáciles de seleccionar con un ratón o al usar la pantalla táctil. Paso a paso, la interfaz intuitiva lo guía a través del proceso de inspección completo, lo que deriva en un proceso de trabajo rápido y productivo. Con sólo un clic de botón, comience a escanear una membrana en función de la configuración de inspección seleccionada;revise los resultados escaneados o almacenados (incluida la validación), o genere e imprima informes que cumplan con las normas industriales. 1 á Distribución del trabajo intuitiva junto...
Abrir la página 7 del catálogoOLYMPUS Cleanliness Inspector Irtspect San i pie Acqmr Samptr £. Sample informaron Arquiríng sample... Clavsification mcasurcmcnt Icfet Max. íuml (ount result: Sample results Ovcrall approval: Ñorm.ili/ed count (parí) Todos los datos importantes visualizados en un solo lugar El sistema CIX100 permite adquirir imágenes de alta calidad y efectuar análisis precisos de partículas reflectantes o no reflectantes (de 2,5 pim a 42 mm) en tiempo real mediante un solo escaneo gracias al método patentado1 de polarización. Esta solución de escaneo «todo en uno» permite completar escaneos en una escala...
Abrir la página 8 del catálogoEscaneo todo en uno para un alto rendimiento El método de polarización innovador, basado en la separación de la longitud de onda y la codificación cromática, detecta partículas reflectantes (metálicas) y no reflectantes (no metálicas) mediante un solo escaneo. Integrada en la estructura del microscopio, esta configuración de elevado rendimiento permite que los escaneos sean completados en una escala temporal dos veces más rápida que el método clásico (Serie Inspector); asimismo, elimina el desplazamiento de componentes desde la trayectoria de luz óptica, como el polarizador, que podría...
Abrir la página 9 del catálogoc“ OLYMPUS Cleanliness Inspector Partid* View Sample Irnaye Live Observation Snapshot View Inspcct Sample Revivw Sjmp*c Particle location Sample information Sample 10: “ Standard: Partkrle type: Insportion configuraron: Sample results_ Approval referente*: OvordII approval: Coda: Classification Tablc Partido Tablc Class Feret Max. Ab Máximum Approval Flexibilidad de evaluación y revisión El sistema CIX100 combina herramientas potentes y fáciles de usar que favorecen la revisión de los datos de inspección mediante una rápida evaluación guiada. La función de reclasificación en un solo clic...
Abrir la página 10 del catálogoTodos los catálogos y folletos técnicos Evident - Olympus Scientific Solutions
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39DL PLUS
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IPLEX GX/GT
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IPLEX NX
12 Páginas
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MXPLFLN Series
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LC35
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DP74
8 Páginas
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SZX7
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SZ61 SZ51 Brochure
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SZX16 - SZX10
24 Páginas
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GX53 Brochure
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BXC Series Brochure
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Eddy Current Probe Kits Brochure
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OmniScan X3 64 Brochure
8 Páginas
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OmniScan® X3 Brochure
8 Páginas
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Camera Overview
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72DL PLUS
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Industrial Scanners brochure
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Vanta GX Brochure
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IPLEX G LITE-W brochure
4 Páginas
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PRECiV 1.2 Brochure
20 Páginas
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SZX-AR1
12 Páginas
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BondMaster 600
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EdgeFORM™
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OmniScan MX
12 Páginas
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COBRA® Manual Weld Scanner
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Industrial Scanners and Accessories
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Vanta™ iX In-Line XRF Analyzer
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Rotating Billet Inspection
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Phased Array Probes and Wedges
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Spotweld Transducers
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72DL PLUS™
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Magna-Mike™ 8600
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DC1–DC5
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45MG
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35 RDC
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OmniScan MX ECA
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NORTEC™ Scanners
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OmniScan® X3 64
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Wind Blade Inspection Solution
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IPLEX Long Scope
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RVI General Overview
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IPLEX TX
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IPLEX G Lite
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IPLEX GAir
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Microscope Component Solutions
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OLYMPUS Stream
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DP28
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MX63/MX63L
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BX53M - BXFM Brochure
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STM7 Series
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LEXT OLS5000
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Vanta Overview
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Vanta™ Handheld XRF Analyzer
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Vanta™ iX Systems
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Vanta™ iX Brochure
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NORTEC 600
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DSX1000 Brochure
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27MG
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Mini_Wheel_Encoder
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CFRP Radii Inspection Solution
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