Extractos del catálogo
Tecnología TC y de rayos X para inspección de electrónica NIKON METROLOGY I VISION BEYOND PRECISION
Abrir la página 1 del catálogoINSPECCIÓN DE ELECTRÓNICA MÁS SENCILLA Existe una creciente demanda de sistemas de inspección de rayos X flexibles, de alta resolución y rentables para hacer frente a la evolución de las geometrías cada vez más pequeñas dentro de los componentes electrónicos y cumplir con normas de calidad más exigentes. La serie XT V permite conocer el interior de placas de circuito impreso, componentes o dispositivos electrónicos dentro de un proceso de inspección intuitivo y no destructivo. La inspección de rayos X ofrece muchas ventajas a fabricantes e investigadores, como acelerar la producción y...
Abrir la página 2 del catálogoCon la constante demanda de miniaturización de componentes y las tecnologías de empaquetado 3D, los sistemas modernos de inspección de rayos X deben producir las imágenes más nítidas en una amplia gama de aplicaciones a fin de aumentar la productividad. Interconectividad a nivel de oblea: WLFP o WL-CSP, empaquetado 3D, sistema encapsulado (SiP) Además de la inspección de electrónica, los sistemas XT V también sirven para inspección de rayos X y TC en una amplia variedad de componentes más pequeños. La amplia bandeja puede contener diferentes muestras para análisis NDT en serie: Sistemas...
Abrir la página 3 del catálogoLas fuentes de rayos X Nikon Metrology son el núcleo de nuestra tecnología y son diseñadas y fabricadas internamente. Esto permite que Nikon Metrology se adapte rápidamente al mercado y desarrolle soluciones completas e innovadoras según la demanda de aplicaciones. Entre las principales ventajas se cuenta el bajo costo de funcionamiento, menor mantenimiento y mayor confiabilidad gracias al diseño de tubo abierto. El generador de voltaje integrado elimina la necesidad de cables de alto voltaje, que requieren mantenimiento con regularidad.
Abrir la página 4 del catálogoLos sistemas XT V cuentan con un manipulador de muestras de alta precisión, con eje de rotación TC optativo de precisión. La configuración vertical del sistema, con el tubo de rayos X debajo del portamuestras y el generador de imágenes inclinable, se controla mediante el sencillo software Inspect-X, o precisa manipulación con mando. Con capacidad de rotaciones múltiples incluso con máxima inclinación, la mesa giratoria del XT V 160 de gama alta permite vista aérea alrededor de cualquier región de interés, incluso con máximo aumento. 0° Bajo cualquier combinación de rotación, inclinación y...
Abrir la página 5 del catálogoMÁXIMA CALIDAD XT V 160: inspección de rayos X de máxima calidad Diseñado específicamente para líneas de producción y laboratorios de análisis de errores, el XT V 160 puede configurarse con distintos componentes de primera calidad para optimizar el rendimiento según sus necesidades. Además de la inspección manual en tiempo real, el proceso de inspección puede automatizarse completamente para maximizar la productividad. • Fuente NanoTech de 160 kV/20 W de microfoco con reconocimiento de características submicrónica • Cámara de 12 bits y 1,45 Mpixel con intensificador de imagen de 4"/6" de...
Abrir la página 6 del catálogoY ECONOMÍA XT V 130C: inspección de rayos X rentable El XT V 130C es un sistema de inspección muy flexible y económico para sistemas electrónicos y semiconductores. El sistema presenta una fuente de 130 kV/10 W fabricada por Nikon Metrology, un diseño de tubo abierto mundialmente reconocido con generador integrado y una cadena de creación de imágenes de alta resolución. Una serie de actualizaciones de fábrica o en terreno permite que los usuarios configuren el sistema según sus propios requisitos y presupuesto. Entre las actualizaciones se incluye una platina para rotación de muestras,...
Abrir la página 7 del catálogoEl software interactivo y de facil uso es esencial para evaluar estructuras internas complejas, realizar inspecciones precisas y reconocer defectos con confianza. Inspect-X está diseñado pensando en la experiencia del usuario, para lograr inspección de rayos X intuitiva y productiva. Inspect-X cuenta con asistentes fáciles de usar para orientar a los usuarios en las inspecciones complejas, además de emplear las más avanzadas funcionalidades de visualización y análisis. Los sistemas XT V con Inspect-X permiten la rápida implementación de nuevas líneas de producción, en cuestión de minutos en...
Abrir la página 8 del catálogoCON ANÁLISIS AVANZADO ANÁLISIS Y MEJORAMIENTO DE IMÁGENES Para tomar decisiones correctas en tiempo real, se requieren imágenes extremadamente claras y nítidas. El motor C.Clear en tiempo real permite que los operadores identifiquen objetos con confianza, sin necesidad de gastar tiempo en mejorar las imágenes. C.Clear se adapta inteligentemente a las condiciones cambiantes de los rayos X y las posiciones de la muestra, ajustando automáticamente los controles, el contraste y el brillo para entregar las imágenes más claras y nítidas a fin de ayudar en la detección de defectos. • Filtros y...
Abrir la página 9 del catálogoInspkHtion Rrport - PC'BA Inxpeclion Inspect-X ofrece un conjunto de herramientas fáciles de usar y plantillas HTML personalizables, para infinidad de posibilidades de generación de informes automatizados o en tiempo real. Los informes pueden compartirse fácilmente con colegas o proveedores para facilitar la toma de decisiones. Los resultados quedan disponibles para análisis fuera de línea y solución de problemas en la estación de validación.
Abrir la página 10 del catálogoTodos los catálogos y folletos técnicos Nikon Metrology
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APDIS MV430 / MV450 MV430E / MV450E
12 Páginas
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NEXIV VMZ R-Series
12 Páginas
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CMM-Manager for iNEXIV
4 Páginas
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CMM-Manager
8 Páginas
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MCAx-MM
8 Páginas
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LC60Dx
4 Páginas
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LC15Dx
8 Páginas
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Microscopios estéreo
32 Páginas
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Laser Radar General
6 Páginas
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XC65Dx(-LS)
2 Páginas
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Escáner láser L100
8 Páginas
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TC automatizada
8 Páginas
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iNEXIV VMA series
8 Páginas
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XT V SERIES
7 Páginas
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XT H 225 ST 2x
7 Páginas
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VOXLS 30 SERIES
15 Páginas
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XT H Series
7 Páginas
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APDIS Intelligent Quality Stations
7 Páginas
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APDIS Automotive
7 Páginas
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MCT225 Metrology CT
4 Páginas
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Industrial X-ray and CT
7 Páginas
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NEXIV VMZ-S
5 Páginas
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bw series
8 Páginas
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Autocollimator
4 Páginas
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X-ray CT inspection services
1 Páginas
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Overview brochure
40 Páginas
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NEXIV VMZ-K Series
5 Páginas
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NEXIV VMZ-H3030
3 Páginas
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Microscope components
17 Páginas
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Laser Radar Inline Inspection
6 Páginas
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Laser Radar Aerospace
6 Páginas
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CAMIO8
16 Páginas
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ALTERA CMM
8 Páginas
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Newsmagazine Vol.13
28 Páginas
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NWL200
5 Páginas
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Eclipse MA200-MA100N
12 Páginas
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Eclipse LV-N Microscopes
9 Páginas
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Autocollimators 6B-LED/6D-LED
3 Páginas
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VMZ-R Series
7 Páginas
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MM-Series
15 Páginas
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AZ100M-AZ100
20 Páginas
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NIS-Elements
20 Páginas
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Digital sight series
9 Páginas
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Nikon Metrology Solutions
40 Páginas
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Profile Projectors
12 Páginas
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XT H Series
12 Páginas
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Configurable X-ray CT systems
12 Páginas
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Focus
6 Páginas
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K-Scan MMDx - K-CMM
4 Páginas
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JEOL Smart Coater
2 Páginas
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JCM 6000 Plus Neoscope
16 Páginas
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iSpace Assembly Fabrication
4 Páginas
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iSpace
6 Páginas
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H14L
4 Páginas
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eclipse E200pol
3 Páginas
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Auto MeasureEyes
2 Páginas
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gehl-kseries
2 Páginas
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X-ray & CT inspection services
1 Páginas
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BW-Series
8 Páginas
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X.Tract
2 Páginas
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Nikon Metrology News Vol.10
28 Páginas
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Nikon Metrology News Vol.9
28 Páginas
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LV100N POL Ci POL
5 Páginas
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LV-DAF Brochure
2 Páginas
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Nikon Metrology Newwsmagazine Vol.8
28 Páginas
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Digimicro MF-1001/ MF-501/ MH-15M
3 Páginas
Catálogos archivados
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Shuttlepix Digital Microscope
8 Páginas
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NEXIV VMR Brochure
5 Páginas
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Intensilight Brochure
3 Páginas
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Eclipse L200 Series
5 Páginas
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Eclipse LV Series Brochure
10 Páginas
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Eclipse LV100-UDM-POL
3 Páginas
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Neoscope JCM-6000 Brochure
6 Páginas
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K-Robot
2 Páginas
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LC60D dual purpose laser scanner
2 Páginas
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LC15 Optical Probe
2 Páginas
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XC50-LS Cross Scanner
2 Páginas
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scanning electron microscope (SEM)
4 Páginas
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stereomicroscope SMZ1000
7 Páginas
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Upright Microscopes Eclipse 50i POL
5 Páginas
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Neoscope Brochure
4 Páginas
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Optistation-3100
2 Páginas
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AMI-3000
2 Páginas
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COOLSCOPE
8 Páginas
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BioStation IM
5 Páginas
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BioStation CT
8 Páginas
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Neoscope Brochure
4 Páginas
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DXM-1200C
6 Páginas
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Digital Sight Series Brochure
6 Páginas
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Optistation-3100
2 Páginas
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AMI-3000
2 Páginas
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Eclipse FN1
7 Páginas
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Eclipse E100 Brochure
5 Páginas
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Fluorescence Filter Blocks
6 Páginas
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Eclipse 50i/55i Accessories
5 Páginas
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AZ100M (Motorized) Bio Brochure
8 Páginas
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Laser TIRF System
7 Páginas
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Eclipse TS100/TS100F
8 Páginas
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Eclipse Ti Brochure
15 Páginas
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Eclipse TE2000 Brochure
28 Páginas
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COOLSCOPE
8 Páginas
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BioStation IM brochure
5 Páginas
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BioStation CT brochure
8 Páginas