Extractos del catálogo
PLENO CONTROL DE SU PROCESO DE PRODUCCIÓN NIKON METROLOGY I VISIÓN MÁS ALLÁ DE LA PRECISI
Abrir la página 1 del catálogoTC INDUSTRIAL LISTO PARA LA PRODUCCIÓN LA PERCEPCIÓN MÁS RÁPIDA DE LA CALIDAD DEL PRODUCTO
Abrir la página 2 del catálogoUn desafío importante para los fabricantes es aumentar la calidad de los productos, lo que se logra gracias a la inspección del 100% de la pieza. Tradicionalmente, la tomografía computarizada (TC) con rayos X ha sido una herramienta valiosa, utilizada principalmente en investigación o laboratorios de creación de prototipos para evaluar fallas o detectar defectos; una herramienta de ingeniería comprobada que en general se consideraba demasiado lenta para utilizarse en una línea de producción. ¡Hasta ahora! Los recientes avances en blancos giratorios de alto flujo para fuentes de rayos X,...
Abrir la página 3 del catálogoINSPECCIÓN DE TC POR LOTES Las rutinas automatizadas aseguran la consistencia Para laboratorios de control de calidad o análisis de errores, cuando se deben inspeccionar lotes de muestras, los sistemas TC de Nikon Metrology están diseñados pensando en la automatización. Como estándar, el software Nikon Inspect-X permite que los usuarios guarden perfiles de escaneo que pueden recuperarse posteriormente. Los perfiles de escaneo TC determinan los parámetros de las condiciones de los rayos X, la posición del manipulador y la configuración de captura de imágenes, junto con los parámetros de...
Abrir la página 4 del catálogoINSPECCIÓN DE TC SEMIAUTOMATIZADA Menor participación del operador En un entorno de producción que exige un ritmo de inspección acelerado, los sistemas de inspección de TC semiautomatizados son una solución que deja una sola tarea manual; la manipulación de piezas. El operador puede cargar las piezas individualmente o como un bastidor de varias piezas que se mueven individualmente a la posición de escaneo TC mediante un sistema de carga interno. A través de la comunicación con las bases de datos de producción, el sistema TC puede reconocer automáticamente la pieza por inspeccionar y ajustar...
Abrir la página 5 del catálogoINSPECCIÓN DE TC EN LÍNEA Inspección del 100% de la pieza El sistema de inspección de TC en línea es una solución para entornos de producción completamente automatizados que requieren inspección de piezas críticas con estructuras o geometrías internas complejas. Se trata de la solución de inspección ideal para empresas que implementen la metodología “Industria 4.0” en la planta. El proceso de inspección de TC completo es automatizado, sin intervención del operador; se escanean los códigos de identificación de piezas, que se manejan mediante la base de datos, y se utilizan robots para...
Abrir la página 6 del catálogoIdentificación de piezas Selección de programa Escaneo TC Reconstrucción por TC Análisis y secuenciación TC Interpretación de resultados TAREAS AUTOMATIZADAS Cargar informe de base de dato
Abrir la página 7 del catálogoAutomated CT Inspection_EN_0317 – Copyright Nikon Metrology NV 2018. Todos los derechos reservados. Los materiales presentados son un resumen, están sujetos a cambios y se presentan solo como información general. NIKON CORPORATION Shinagawa Intercity Tower C, 2-15-3, Konan, Minato-ku, Tokyo 108-6290 Japón Tel: +81-3-6433-3701 Fax: +81-3-6433-3784 www.nikon.com/products/industrial-metrology/ NIKON METROLOGY EUROPE NV Tel: +32 16 74 01 01 Sales.Europe.NM@nikon.com NIKON METROLOGY, INC. Tel: +1 810 2204360 Sales.US.NM@nikon.com NIKON METROLOGY GMBH Tel: +49 6023 91733-0...
Abrir la página 8 del catálogoTodos los catálogos y folletos técnicos Nikon Metrology
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APDIS MV430 / MV450 MV430E / MV450E
12 Páginas
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NEXIV VMZ R-Series
12 Páginas
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CMM-Manager for iNEXIV
4 Páginas
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CMM-Manager
8 Páginas
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MCAx-MM
8 Páginas
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LC60Dx
4 Páginas
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LC15Dx
8 Páginas
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Serie XT V
12 Páginas
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Microscopios estéreo
32 Páginas
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Laser Radar General
6 Páginas
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XC65Dx(-LS)
2 Páginas
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Escáner láser L100
8 Páginas
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iNEXIV VMA series
8 Páginas
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XT V SERIES
7 Páginas
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XT H 225 ST 2x
7 Páginas
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VOXLS 30 SERIES
15 Páginas
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XT H Series
7 Páginas
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APDIS Intelligent Quality Stations
7 Páginas
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APDIS Automotive
7 Páginas
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MCT225 Metrology CT
4 Páginas
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Industrial X-ray and CT
7 Páginas
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NEXIV VMZ-S
5 Páginas
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bw series
8 Páginas
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Autocollimator
4 Páginas
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X-ray CT inspection services
1 Páginas
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Overview brochure
40 Páginas
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NEXIV VMZ-K Series
5 Páginas
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NEXIV VMZ-H3030
3 Páginas
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Microscope components
17 Páginas
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Laser Radar Inline Inspection
6 Páginas
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Laser Radar Aerospace
6 Páginas
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CAMIO8
16 Páginas
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ALTERA CMM
8 Páginas
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Newsmagazine Vol.13
28 Páginas
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NWL200
5 Páginas
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Eclipse MA200-MA100N
12 Páginas
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Eclipse LV-N Microscopes
9 Páginas
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Autocollimators 6B-LED/6D-LED
3 Páginas
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VMZ-R Series
7 Páginas
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MM-Series
15 Páginas
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AZ100M-AZ100
20 Páginas
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NIS-Elements
20 Páginas
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Digital sight series
9 Páginas
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Nikon Metrology Solutions
40 Páginas
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Profile Projectors
12 Páginas
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XT H Series
12 Páginas
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Configurable X-ray CT systems
12 Páginas
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Focus
6 Páginas
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K-Scan MMDx - K-CMM
4 Páginas
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JEOL Smart Coater
2 Páginas
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JCM 6000 Plus Neoscope
16 Páginas
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iSpace Assembly Fabrication
4 Páginas
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iSpace
6 Páginas
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H14L
4 Páginas
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eclipse E200pol
3 Páginas
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Auto MeasureEyes
2 Páginas
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gehl-kseries
2 Páginas
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X-ray & CT inspection services
1 Páginas
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BW-Series
8 Páginas
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X.Tract
2 Páginas
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Nikon Metrology News Vol.10
28 Páginas
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Nikon Metrology News Vol.9
28 Páginas
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LV100N POL Ci POL
5 Páginas
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LV-DAF Brochure
2 Páginas
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Nikon Metrology Newwsmagazine Vol.8
28 Páginas
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Digimicro MF-1001/ MF-501/ MH-15M
3 Páginas
Catálogos archivados
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Shuttlepix Digital Microscope
8 Páginas
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NEXIV VMR Brochure
5 Páginas
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Intensilight Brochure
3 Páginas
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Eclipse L200 Series
5 Páginas
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Eclipse LV Series Brochure
10 Páginas
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Eclipse LV100-UDM-POL
3 Páginas
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Neoscope JCM-6000 Brochure
6 Páginas
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K-Robot
2 Páginas
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LC60D dual purpose laser scanner
2 Páginas
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LC15 Optical Probe
2 Páginas
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XC50-LS Cross Scanner
2 Páginas
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scanning electron microscope (SEM)
4 Páginas
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stereomicroscope SMZ1000
7 Páginas
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Upright Microscopes Eclipse 50i POL
5 Páginas
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Neoscope Brochure
4 Páginas
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Optistation-3100
2 Páginas
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AMI-3000
2 Páginas
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COOLSCOPE
8 Páginas
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BioStation IM
5 Páginas
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BioStation CT
8 Páginas
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Neoscope Brochure
4 Páginas
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DXM-1200C
6 Páginas
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Digital Sight Series Brochure
6 Páginas
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Optistation-3100
2 Páginas
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AMI-3000
2 Páginas
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Eclipse FN1
7 Páginas
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Eclipse E100 Brochure
5 Páginas
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Fluorescence Filter Blocks
6 Páginas
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Eclipse 50i/55i Accessories
5 Páginas
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AZ100M (Motorized) Bio Brochure
8 Páginas
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Laser TIRF System
7 Páginas
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Eclipse TS100/TS100F
8 Páginas
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Eclipse Ti Brochure
15 Páginas
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Eclipse TE2000 Brochure
28 Páginas
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COOLSCOPE
8 Páginas
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BioStation IM brochure
5 Páginas
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BioStation CT brochure
8 Páginas